LED照明產(chan)品的(de)高溫低溫濕(shi)熱老(lao)化可靠性試驗

     LED照明產品（LED日光燈/LED照明燈具/LED節能燈/LED光源(yuan)/LED模組/LED通(tong)訊/LED燈泡/LED光電(dian)/LED路燈/LED封裝(zhuang)/LED電(dian)源(yuan)）可靠性設計(ji)技術，顧名(ming)思(si)義(yi)，即是檢驗產(chan)品(pin)在(zai)用(yong)(yong)戶使用(yong)(yong)時是否可靠的(de)一(yi)門測試(shi)技術。這項測試(shi)技術運用(yong)(yong)成功與否，對產(chan)品(pin)的(de)質量(liang)有(you)舉(ju)足輕重的(de)效果(guo)，它自始(shi)至(zhi)終地貫徹(che)在(zai)產(chan)品(pin)的(de)設計(ji)和生產(chan)過程中。當一(yi)個室內LED照明產(chan)品被設計出來時，它(ta)的使用壽命有(you)多長？LED照明產品能(neng)在怎樣的惡劣的環境下（如高溫、低(di)溫、高低溫(wen)循環(huan)、高低溫(wen)老化、高溫(wen)高濕、冷(leng)熱沖擊和振動等）運(yun)行？LED照明廠家首先要通過(guo)可(ke)靠性(xing)實驗做到心中有數(shu)。然后，把(ba)使(shi)用要(yao)點寫(xie)進說明書(shu)，提醒用戶一(yi)些(xie)注意事項，避免用戶因操作不當(dang)而損壞產品。下面就(jiu)簡單介(jie)紹一(yi)些(xie)LED照明燈(deng)具可(ke)靠性試(shi)驗的方法和項目(mu)。

       LED照明(ming)產品的可(ke)靠性測試項目主要有：A：LED燈具高溫老化試驗 B：高溫(wen)高壓沖擊(ji)啟(qi)動試驗 C：LED低溫試驗(yan) D：低溫高壓沖擊啟動試驗(yan) E：LED振動試驗 F：壽命試驗 G：LED照明老化試驗 H：小試 I：中試。下(xia)面就介紹(shao)這(zhe)些項目的運用。（以額定電(dian)壓220V為(wei)例）其中部分設備(bei)需自(zi)制。

A：高(gao)溫試驗。 主要測試設備：LED恒(heng)溫老化箱、溫度計、調壓器、電壓表和時鐘。 主要測試項目：高溫低壓啟動、高溫安全運行。 測試數量：10個。 測試方法：把待測LED照明燈具(ju)放進恒溫老化(hua)箱，連接電路(lu)，把調(diao)壓器的(de)輸出(chu)電壓調(diao)至180V（調(diao)壓器僅給待測LED燈具供電），打開(kai)LED恒(heng)溫老化箱電(dian)源，把溫(wen)度(du)設定在(zai)60℃，待箱內(nei)的溫(wen)度(du)升至60℃時打開燈具(ju)的電(dian)源，觀察(cha)(cha)燈具(ju)是(shi)否正(zheng)常工(gong)作，然(ran)后把調壓器升至250V，讓其工(gong)作24小時，觀察(cha)(cha)實(shi)驗結(jie)果。若發(fa)生燈具(ju)損壞材料(liao)受熱(re)變(bian)形等異常現(xian)象時則(ze)該項實(shi)驗為不合格。 

B：高(gao)(gao)溫(wen)(wen)(wen)(wen)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)沖(chong)擊啟動試(shi)(shi)驗。 主(zhu)要測(ce)(ce)試(shi)(shi)設備：恒溫(wen)(wen)(wen)(wen)箱、溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)計、調壓(ya)(ya)器(qi)、電(dian)壓(ya)(ya)表和時(shi)鐘。 主(zhu)要測(ce)(ce)試(shi)(shi)項(xiang)(xiang)目(mu)：高(gao)(gao)溫(wen)(wen)(wen)(wen)啟動性(xing)能和可靠性(xing) 測(ce)(ce)試(shi)(shi)數量：10個。 測(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)法(fa)：接上項(xiang)(xiang)試(shi)(shi)驗。在(zai)高(gao)(gao)溫(wen)(wen)(wen)(wen)狀況(kuang)下(xia)，把調壓(ya)(ya)器(qi)電(dian)壓(ya)(ya)調至250V，開關三次，每(mei)次間隔不少于(yu)8秒(miao)鐘（間隔8秒(miao)鐘是(shi)要待燈具內的電(dian)容全部放電(dian)，減少相互干擾），在(zai)此過程中，燈具不應(ying)損(sun)壞，否則將視為不合格。 C：低(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)驗。 主(zhu)要測(ce)(ce)試(shi)(shi)設備：低(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)箱、溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)計、調壓(ya)(ya)器(qi)、電(dian)壓(ya)(ya)表和時(shi)鐘。 主(zhu)要測(ce)(ce)試(shi)(shi)項(xiang)(xiang)目(mu)：低(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)低(di)壓(ya)(ya)啟動。 測(ce)(ce)試(shi)(shi)數量：10個。 Led低溫測試方法：把(ba)待測燈具放進低溫箱，連(lian)接電路(lu)，把(ba)調壓(ya)器的輸(shu)出電壓(ya)調至180V（調壓(ya)器僅給待測燈具供(gong)電），打(da)開led低溫(wen)(wen)箱電源(yuan)(yuan)，把溫(wen)(wen)度設(she)定(ding)在(zai)-15℃，待箱內的溫(wen)(wen)度降至-15℃時再保持2小時，讓燈(deng)具(ju)充分冷卻后，打開(kai)燈(deng)具(ju)的電源(yuan)(yuan)，觀察實(shi)驗結果。若發生燈(deng)具(ju)損壞(huai)、不能(neng)啟動等(deng)異常現(xian)象時則該項實(shi)驗為不合格。

D：低(di)溫高壓沖(chong)擊(ji)啟動試驗。 主要測試設(she)備(bei)：led低溫試驗箱、溫度計、調壓器、電壓表和時鐘。 主要測試項目：低溫高壓沖擊可靠性 測試數量：10個。 測試方法：接上項試驗。在低溫狀況下，把調壓器電壓調至250V，開關三次，每次間隔不少于8秒鐘（間隔8秒鐘是要待燈具內的電容全部放電，減少相互干擾），在此過程中，燈具不應損壞，否則將視為不合格。 

E：振動試驗(yan)。 主要測試設備：led照明燈具振(zhen)動試驗臺1套 測(ce)試數量(liang)：10個(ge)包裝(zhuang)。 測(ce)試方(fang)法：把led燈具及led照明測試樣品(pin)包裝好，放(fang)在(zai)振(zhen)動試驗(yan)臺上(shang)(shang)，把(ba)測試頻率調在(zai)0。5—5赫茲，周期為1分鐘，振(zhen)幅為1。5厘(li)米，在(zai)上(shang)(shang)下、左(zuo)右(you)、前后(hou)三個方向上(shang)(shang)分別試驗(yan)30分鐘，然后(hou)取出樣品(pin)測試，不應有損(sun)壞的現象出現，否則將視為不合(he)格。 

F：壽(shou)命試(shi)驗。 主(zhu)要測(ce)試(shi)設備：供電(dian)電(dian)源 主(zhu)要測(ce)試(shi)項目：正常工(gong)(gong)作(zuo)(zuo)壽(shou)命 ;測(ce)試(shi)數量：10個(ge)。 測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)1：把燈具(ju)接上額定電(dian)壓220V，讓(rang)其正常工(gong)(gong)作(zuo)(zuo)，記(ji)下開始工(gong)(gong)作(zuo)(zuo)時間，待每個(ge)燈具(ju)損壞(huai)時，記(ji)下終止的時間，當所有的燈具(ju)損壞(huai)時，求出燈具(ju)的平均工(gong)(gong)作(zuo)(zuo)時間，這即為產(chan)品的壽(shou)命。 測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)2：根據(ju)實(shi)際(ji)燈具(ju)產(chan)品，采(cai)取的加速(su)壽(shou)命老化的方(fang)法(fa)（例如加高(gao)溫、高(gao)壓和頻繁開關等），根據(ju)實(shi)際(ji)情況制造的老化設備。 

G：led老化試驗(yan)。Led照(zhao)明燈具及(ji)led電(dian)源等(deng)新產品在投產前，必須(xu)在數量上分別(bie)通過(guo)(guo)小批試產和中量試產的階段(duan)，通過(guo)(guo)這些試驗可找出(chu)非設計問題如原材(cai)料和工(gong)藝(yi)問題。